Analyse microscopique d'éléments

Röntgenspektroskopie

La détermination de la composition élémentaire d'objets microscopiques relève du domaine de la spectroscopie à rayons X par dispersion d'énergie (EDX – énergie dispersive X-ray spectroscopie). Les microphotographies à l'aide d'un microscope électronique à balayage - p.ex. Aires de surface minuscules ou particules - peuvent se combiner avec des « cartes d'éléments » superposés pour former un ensemble éloquent. Tous les éléments après le carbone peuvent être analysés quantitativement.

Le système EDX opère en commun avec le microscope électronique à balayage et utilise sa chambre d'éprouvette, son système à vide et son faisceau d'électrons (voir également la fiche technique correspondante). 

 

Aperçu des utilisations possibles dans le domaine de la recherche et du développement :
Recherche et développement
  • Analyse de la répartition des éléments dans des alliages (p.ex. contacts électriques)
  • Détermination de la composition des particules
  • Caractérisation d'inclusions
  • Démonstration de processus de migration ou de ségrégation
Production
  • Contrôle de joints de soudure, points de soudage, ...
  • Recherche de l'origine des contaminations
  • Surveillance des produits de série
Vente / marketing
  • Analyses illustratives de produits, comparaison avec les produits de la concurrence

Description du système

  • Système ultra moderne d'analyse par rayons X Thermo Scientific Noran 7
  • Détecteur semi-conducteur avec fenêtre en polymère
  • Logiciel d'évaluation convivial avec détection automatique d'élément, nombreuses options de balayage comme p.ex. balayage linéaire, « cartes d'éléments » et algorithmes pour analyse quantitative.

Caractéristiques du système de spectroscopie à rayons X par dispersion d'énergie

  • Détecteur semi-conducteur SiLi avec surface de 30 mm², refroidi par LN2
  • Fenêtre d'entrée en polymère NORVAR
  • Résolution en énergie 149 eV FWHM (Mn Kα)
  • Détection de tous les éléments après le carbone
  • Résolution spatiale env. 2 μm
  • Profondeur des informations de quelques μm, selon la densité de la matrice
  • Identification automatique des éléments dans le spectre des rayons X
  • Nombreux algorithmes pour analyse quantitative
  • Analyse ponctuelle, balayages linéaires, cartes d'éléments
  • Système avec détecteur, électronique d'acquisition et ordinateur spécial de microanalyse

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